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OE4000光相噪测试系统

超窄激光线宽/频率噪声测试仪

品牌:OEwaves

主要特性和功能:


测量范围:630nm - 2.2um

超窄线宽/频率噪声测试

快速实时测量;全自动测试;界面简单实用

无需参考光源

接受客户定制,升级


所有型号

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概述 技术指标 评论


美国OEwaves公司的超窄激光线宽/频率噪声测试仪利用零差方法进行自动测量,能够准确测试超低相位噪声的激光器光源。通过方便快捷的软件界面进行操作,能够瞬间测试10Hz以下线宽的激光器,无需复杂的搭建系统。该系统利用零差测试法,测量覆盖范围大,无需额外的超窄激光器,同时系统还能够测试相位/频率噪声及相对噪声强度(RIN)。


产品特点

超窄线宽/频率噪声测试

快速实时测量

全自动测试

无需参考光源

界面简单实用

接受客户定制,升级

可选项:

外部参考激光器输入,测量范围覆盖630nm-2.2μm

RIN测试

扩展输入光功率范围

增强测量准确性及频率测量范围



具体指标

参数

1530-1565nm输入

频率噪声灵敏度

10Hz

100Hz

1KHz

>10KHz

50 Hz/√Hz

10 Hz/√Hz

2 Hz/√Hz

1 Hz/√Hz

基准频率范围

10Hz - 1MHz

洛伦兹线宽灵敏度

<10Hz

输入光功率范围

+5 +15 dBm (PM-FC/APC)

测量类型

零差方法,可选测试RIN

显示功能

光谱功率密度

数据接口

HHD USB

带宽分辨率

0.1 Hz - 200 kHz

操作温度范围

15° - 35° C

供电

110/120 or 220/240 Vac, 50/60 Hz

尺寸

3U x 19” Rack Mount

可配选项

低功率输入

-10 to 0 dBm

客户定制输入波长

1950-2050 nm

扩展基准频率范围

1 Hz - 10 MHz or 100 MHz

额外测试内容

相对噪声强度RIN



操作系统
2

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产品名称: OE4000光相噪测试系统

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