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J750测试系统

SoC测试系统

品牌:

主要特性和功能:

Teradyne的测试平台UltraFLEX和J750提供所需的功率和精度以及测试速度和覆盖范围,以便为数字/混合信号市场提供广泛的测试需求。从包括最复杂和高价值半导体的数字设备到移动设备和游戏机核心的混合信号SoC器件,泰瑞达是数字/混合信号市场的首选测试仪。

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概述 技术指标 评论

J750测试系统

低成本,高效率并行测试的测试解决方案

泰瑞达的J750平台是对各种各样的微控制器,FPGA和数字音频/基带设备进行经济高效测试的行业标准。该系统的安装基数超过6,000个,可在50多个OSAT位置广泛使用,并且有一整套用于晶圆分类和最终测试的生产接口解决方案。



应用:

微控制器

FPGA

数字音频/基带设备

LCD驱动器,触摸屏传感器和触摸显示驱动器集成(TDDI)



优点

泰瑞达将功耗和性能集成到紧凑,经济的J750系列半导体测试系统中。

低资本成本

轻松地从目前的J750系统升级到J750Ex-HD

“零占用空间”设计可最大限度地利用制造车间的空间

用于快速程序开发的IG-XL™软件可自动扩展到多站点,从而节省开发时间和成本



配置

所有J750系列系统均兼容DIB,并使用IG-XL软件。所有J750系统的测试程序都可以快速迁移到新系统,大多数程序的翻译只需不到一个小时。

J750Ex

多达512或1024个多功能引脚

数据速率高达200 MHz / 400 Mbps

具有集成SCAN的向量存储深度高达64M每个引脚


J750Ex-HD

多达2048个多功能引脚

数据速率高达400 MHz / 800 Mbps

每个引脚的矢量存储深度高达128M


J750-莱特波特

作为所有J750型号的RF升级提供

支持多达32个端口

针对蜂窝和连接RF应用的可扩展配置

了解有关J750-LitePoint的更多信息


J750 - LCD驱动器仪器解决方案

可配置为2,416通道LCD仪表

支持高速多点LVDS接口(如MIPI),

了解更多关于LCD驱动器仪器解决方案







操作系统
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