工欲善其事，必先利其器
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产品型号
J750测试系统
低成本，高效率并行测试的测试解决方案
泰瑞达的J750平台是对各种各样的微控制器，FPGA和数字音频/基带设备进行经济高效测试的行业标准。该系统的安装基数超过6,000个，可在50多个OSAT位置广泛使用，并且有一整套用于晶圆分类和最终测试的生产接口解决方案。
应用：
微控制器
FPGA
数字音频/基带设备
LCD驱动器，触摸屏传感器和触摸显示驱动器集成（TDDI）
优点
泰瑞达将功耗和性能集成到紧凑，经济的J750系列半导体测试系统中。
低资本成本
轻松地从目前的J750系统升级到J750Ex-HD
“零占用空间”设计可最大限度地利用制造车间的空间
用于快速程序开发的IG-XL™软件可自动扩展到多站点，从而节省开发时间和成本
配置
所有J750系列系统均兼容DIB，并使用IG-XL软件。所有J750系统的测试程序都可以快速迁移到新系统，大多数程序的翻译只需不到一个小时。
J750Ex
多达512或1024个多功能引脚
数据速率高达200 MHz / 400 Mbps
具有集成SCAN的向量存储深度高达64M每个引脚
J750Ex-HD
多达2048个多功能引脚
数据速率高达400 MHz / 800 Mbps
每个引脚的矢量存储深度高达128M
J750-莱特波特
作为所有J750型号的RF升级提供
支持多达32个端口
针对蜂窝和连接RF应用的可扩展配置
了解有关J750-LitePoint的更多信息
J750 - LCD驱动器仪器解决方案
可配置为2,416通道LCD仪表
支持高速多点LVDS接口（如MIPI），
了解更多关于LCD驱动器仪器解决方案
