工欲善其事，必先利其器
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产品型号
LUNA6415，光子集成电路和硅光芯片的理想测试工具
得益于其超高的灵敏度和空间分辨率（20μm）
LUNA6415具备单台仪器通过选择反射或者透射模式就能完成IL、RL、长度等所有测试，
大大降低了测试成本，同时简化了测试流程。相比其他测试系统，将大大增加测试产量等优势。
特性：
回损(RL)和插损(IL)分析
长度方向上的回损分布
RL和IL的光谱分析
探测和精准定位反射事件和光路长度
速度、空间分辨率、精度优化产品测试
20μm采样分辨率，20m测量范围
6Hz扫描/采样率
应用：
RL测试
IL自动测试和分析
亚皮秒精度测量延迟（长度）
PLCs，光波导器件，AWGs，ROADMs等测试
耦合器、光开关、分路器测试
